ZFT：Zeta薄膜薄膜

Zeta-20配有集成宽带光谱仪,可用于测量30纳米至100微米的透明薄膜厚度。用户可以从材料数据库中选取的折射率值，该系统能够测量单层或多层堆叠膜厚度。并且可以绘制整片样品上的薄膜厚度分布用以确定样品的均匀性。

ZFT适适用于反射率反射率极低（例如反射率小于0.1％）的表面。这些白光和垂直入射照明の因此适用于各种反射率低的光学说明薄膜。

ZXI：Zeta垂直扫描干涉送技术

当与压电平台和干涉物镜结合使用时,Zeta-20支持相位扫描干涉测量技术(PSI)和垂直扫描干涉测量技术(VSI)。PSI可以快速测量从埃级到几百纳米的台阶高度。VSI则可以测量从几百纳米到几百微米的台阶高度。两者都可以优于纳米级分辨率，并且与物镜的数值孔径无关。

ZIC：Zeta干涉干涉对比

Zeta-20利用Nomarski差分干涉对比显微镜可以提供精细表面细节的增强成像。Nomarski显微镜使用偏振和棱镜来改变相位,以增强样品表面上的斜率变化。这样可以对超光滑表面上的缺陷（如单层污染物）进行可视化。珠海扫描模式将斜率的变化与另一种技术测量的粗糙度相关联,并将这些图像转换为亚纳米级粗糙度的定量测量。

ZSI:ζ剪切干涉测量技术

Zeta-20剪切干涉仪测量技术(ZSI)采用增加相位变化来增强珠海测量。通过收集多个不同相位的图像，然后采用高级算法进行处理以完成具有埃级分辨率的表面形貌的定量测量。该技术不需要干涉物镜,也没有Z平台扫描,从而可以实现从埃级到80纳米的高分辨率测量。

物镜

，包括1.25x - 150x普通物质，长型作物，超长型作物，折射率折射率正物质，透射物，和物质。

耦合器

Zeta-20可配置四个不成的光学融合器，以以光学放大倍率。系统可配置1x综合作者以保持放大大，或配置0.35x，0.5x或0.63x综合系数。

物镜镜头架

Zeta-20可配置5或6位手动物镜架和用于自动物镜识别的物镜传感器。该系统还可配置6位电动物镜架并实现全自动操作。

样品照明

Zeta-20的标准照明是双高亮度白光了。对于挑战性的透明样品，透过样品卡盘的背光也可增强光线。Zeta-20还提供侧面的暗场照明。

平台

Zeta-20可以配置种平等以提高系统性能台选压z高Z分发，从而从而采用ZDOT ZXI测对纳米级或高度传输量.Z平台可安装在旋转旋转上，使探头绕样品旋转，改变改变入射角.xy平台可移动100或300mm位移或电动150或200mm位移。可以在xy平衡上加加手动词台。还可以选择选择倾斜。还可以选择手选择倾斜倾斜。平等。

样品卡盘

Zeta-20提供一系列样品卡盘可支持各种应用要求。太阳能样品需要156毫米样品卡盘或太阳能倾斜边缘卡盘用于将样品倾斜并测量其边缘。背光卡盘可以透射照明并适用于透明基板。也提供300 mm晶圆卡盘。如果我们没有您需要的卡盘，请联系心理契约以满足您的要求。

隔离工作台

Zeta-20具有内置于系统底座的被动隔离支脚。如果需要额外的隔离，可以选用被动和主动台式隔离工作台。

台阶高度和薄膜厚度标准

Zeta-20采用VLSI标准提供的薄膜和厚膜NIST可追踪台阶高度标准。该标准采用有铬镀层的蚀刻石英台阶。台阶高度的测量范围是8nm至250μm。

系统配有多台阶认证标准包括8日25、50和100μm的标称台阶高度。该标准具有用于XY校准的各种间距图案。薄膜厚度的认证标准适用于ZFT，该标准采用参考硅表面和标称270nm二氧化硅薄膜厚度。此外还提供粗糙度和镜面参考样品。

自动测序软件

自动测序软件利用电动XY平均，允许系统自动对每个行程。系统将自动对每个进测并将保存个进测将结果保存保存位置定义件夹中。结果。

高级测序软件采用图案识别以自动对齐样品。这样可以减少人为错误的影响并实现全自动测量。在平台上采用嵌入式标准以启动自动校准。

拼接软件

自动图片拼接软件利用电动xy平均将相邻扫描组组组组扫描合成的起生成比比视野，系统自动仪表个点，对齐图库，并并它们组组合成半标。像任何其他结果文库一流进行分享。

顶点分享到

顶点分析软件通过水平,过滤,阶梯高度,粗糙度和表面形貌分析技术的扩展套件,增强了设备的标准数据分析能力。顶支持ISO粗糙度计算方法以及例如ASME的本地标准。顶点还可用作报告编写平台,具有添加文本,注释和是/否合格的功能。顶点提供八种语言的版本。

离线分析软件

Zeta-20离线软件具有与设备软件相同的数据分析和配方创建功能。这使用户无需占用宝贵的设备时间即可创建配方并分析数据。