即将举行的活动

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2021年10月19日太平洋时间上午10:00(美国和加拿大)

通过玻璃测量表面形貌

10月20日,2021 09:00太平洋时间(美国和加拿大)

薄板电阻测量的光斑尺寸和横向分辨率

2021年11月9日太平洋时间上午10:00(美国和加拿大)

多个接口的Profilm3d

11月18日,2021年08:00上午的时间(美国和加拿大)

使用坎德拉降低通信和传感用GaAs、InP和其他化合物半晶片的缺陷®

12月8日,2021年09:00太平洋时间(美国和加拿大)

具有测试后3D轮廓测定的微电子显示器涂层纳米划痕

缺陷检测系统

缺陷检查员

坎德拉®复合半导体和硬盘驱动器的检测系统可以帮助工程师在通信和网络、LED、电力设备、传感、太阳能、光伏和数据存储等应用领域实现显著的产量和工艺改进。

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纳米丁德纳纳米机械测试人员

纳米压头

KLA仪器纳米丁内特产品组合提供精确,可靠和可重复的测试,以在各种测试条件下表征材料的静态和动态机械性能。

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光学轮廓计

光学分析器

profilm3d.®和Zeta.™️️光学轮廓仪利用干涉仪和ZDot,为三维台阶高度、粗糙度和其他表面形貌测量提供快速、非接触式解决方案测量技术。

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薄层电阻映射器

电影化学®薄层电阻映射器械已基于超过45年的电阻测量创新和技术专业知识开发。

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触针式轮廓仪

触针轮廓仪

α-步骤®,Tencor.p系列,合®触针式轮廓仪可实现高精度、二维和三维表面计量。触针轮廓仪可测量台阶高度、粗糙度、弯曲度和应力,其稳定性和可靠性达到业界领先水平,满足您的研发和生产计量要求。

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薄膜反射计

薄膜反射仪

电影化学薄膜反射仪在几秒钟内提供透明薄膜的厚度和折射率测量,具有行业领先的精度。

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服务

KLA Instruments Service Group提供全球网络快速,响应性和灵活的支持选项网络,以满足您的独特需求并最大限度地提高您的正常运行时间。

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技术文献

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我们的创新历史和深厚的专业知识构建了广泛的测量和检查解决方案组合,满足了每一个需求和环境。看看这一切是如何从Alpha步骤开始的®通过我们最新的产品创新,1977年的产品线。

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