薄层电阻映射器

薄层电阻映射器

的Filmetrics®基于超过45年的电阻测量创新,已开发出薄板电阻测量仪器。从1975年ADE 6035电阻率测量仪的推出到Tencor Instruments、Prometrix和Filmetrics开发的技术,R50是结合了专业技术的顶点,提供了r系列片电阻测量工具。

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太平洋时间2021年10月19日上午10:00(美国和加拿大)

通过表面形貌的玻璃测量

太平洋时间2021年10月20日上午09:00(美国和加拿大)

片材电阻的光斑尺寸和横向分辨率测量

太平洋时间2021年11月9日上午10:00(美国和加拿大)

多个接口的Profilm3d

太平洋时间2021年12月8日上午09:00(美国和加拿大)

微电子显示涂层的纳米划痕与测试后3D轮廓术

Filmetrics R50-4PP

Filmetrics R50-4PP触点探针系统绘制金属层厚度、薄片电阻、薄片电阻率、薄片电导和薄片电导率。10年的测量能力和大的Z范围使R50-4PP成为各种应用的理想选择。

Filmetrics R50-200-4PP也可用于容纳较大的样本量。

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Filmetrics R50-EC

Filmetrics R50-EC非接触涡流系统绘制金属层厚度、薄片电阻、薄片电阻率、薄片电导和薄片电导率。非接触式涡流片电阻测量是测量敏感和/或柔性导电表面上的电阻和薄膜厚度的理想方法。

Fimpetrics R50-200-EC也可容纳更大的样品尺寸。

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光学分析器

的Profilm3D®和ζ™️️光学轮廓仪提供快速,非接触的解决方案,3D台阶高度,粗糙度,和其他表面形貌测量,利用干涉仪和ZDot测量技术。

笔分析器

α-步骤®,Tencor.P系列和HRP®手写轮廓仪可以实现高精度,2D和3D表面计量。触控笔轮廓仪测量台阶高度,粗糙度,弓和应力具有行业领先的稳定性和可靠性,为您的研发和生产计量要求。

薄膜反射计

Filmetrics薄膜反射计可在数秒内测量透明薄膜的厚度和折射率,具有行业领先的精度。

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