纳米压头
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KLA仪器的纳米机械测试仪™为硬度、杨氏模量和其他机械性能提供精确、可靠和可重复的测量，以帮助您探索新材料，减少产品故障并加快上市时间。
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纳米压头®G200X
业界领先的纳米压头，具有灵活、用户友好的界面，用于纳米级机械测试。纳米压头G200X采用高速电子控制器、升级的用户界面和先进的InView™ 支持多种可选高级应用模块的软件：频率特定测试、定量划痕和磨损测试、基于探头的集成成像、高温测试和自定义测试协议。
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纳米压痕领域是由KLA的Warren Oliver博士在近40年前共同创立的，KLA Instruments一直在培养创新文化。从市场上发布第一个纳米压头到将纳米压痕技术扩展到快速、高温和高应变率测试，我们一直在开发新的static和动态测量类型，推动下一代材料硬度纳米机械测试。
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仪器
对于行业专家、学者和其他创新者来说，KLA仪器提供了可靠的测量，实现了世界上的突破性技术。
缺陷检查员
坎德拉酒店®复合半导体和硬盘驱动器的检测系统可以帮助工程师在通信和网络、led、电源设备、传感、太阳能、光伏和数据存储等应用领域实现显著的产量和工艺改进。
光学轮廓仪
Profilm3D®泽塔呢™️️光学轮廓仪提供快速，非接触的解决方案，3D台阶高度，粗糙度，和其他表面形貌测量，利用干涉仪和ZDot™测量技术。
薄板电阻映射器
电影测量学®基于45多年的电阻测量创新和技术专业知识，开发了薄板电阻绘图仪器。
笔分析器
阿尔法阶®，Tencor™p系列,合®触针式轮廓仪可实现高精度、二维和三维表面计量。触针轮廓仪可测量台阶高度、粗糙度、弯曲度和应力，其稳定性和可靠性达到业界领先水平，满足您的研发和生产计量要求。
薄膜反射计
Filmetrics薄膜反射计可在几秒钟内测量透明薄膜的厚度和折射率，精度达到行业领先水平。