产品描述
zeta-388光学轮廓仪一一种接触接触接触接触接触接触接触接触。。。。。。。。×Zeta-388 Zeta-300 Zeta-300的系统采用专利的的™多模式(多多)光学系统,可以各:透明的进行:透明透明:透明和不,由低至高的的,,由由由纹理
zeta-388的灵活并使用使用,并集合六种不同的光学量测技术™3d扫描高分辨率高分辨率高分辨率高分辨率扫描扫描扫描扫描扫描无限无限无限图像。其他其他其他其他其他其他其他其他其他其他技术技术包括干涉干涉干涉,,,,,,,,,,,,,,,,,,,,干涉干涉干涉干涉干涉干涉干涉对比显。。。。Zeta-388也是款显微镜显微镜,可可样品检查或。。。。。。。。晶圆传送,适用于适用于生产。。
主要功能
- 采用ZDOT和多模式(((模式)光学光学的简单光学轮廓仪
- 可用于复检缺陷检测的高显微镜显微镜
- zdot:同时同时高分辨率高分辨率高分辨率数据数据数据数据数据和(()无限无限焦点图像图像图像
- zxi:白光干涉技术,适用于z适用于向高测量测量测量
- ZIC:干涉对比度,适用于亚纳米级别粗糙度的表面并提供其3D定量数据
- ZSI:剪切干涉测量技术提供z向高分辨率图像
- ZFT:使用集成宽带反射计测量膜厚度和反射率
- aoi:自动光学,并对上进行量化进行量化进行量化
- 生产:通过测序图案实现全测量测量测量
- 晶圆传送机械:50mm至200mm至的的不透明如硅如硅如硅如硅如硅和和透明透明透明样品样品样品)样品)
主要应用
- 台阶:纳米纳米毫米的的的的的台阶台阶台阶
- 纹理:平滑到粗糙表面粗糙度波纹度波纹度
- 外形:3d翘曲和形状
- 应力:2d薄膜应力
- 薄膜:30nm到100μm透明薄膜厚度厚度
- 缺陷:捕获捕获大于大于1μm。
- 缺陷:采用klarf文件文件导航以测量缺陷的的的的表面表面形貌或道位置位置
工业应用
- led:pss((图案化蓝宝石蓝宝石)
- 半导体和化合物半导体
- 半导体 WLCSP(晶圆级芯片级封装)
- fowlp((晶圆级封装)
- PCB和柔性PCB
- MEMS(MEMS(系统)
- 医疗设备和设备
- 还有:请请联系以满足要求要求要求