ESL10
革新闻的电子束缺陷检测
加速缺陷发表
当今最先进的IC是的，其结构更小，更窄，更高，更深。这种复杂性要求创深。缺陷缺陷系统可捕获捕获其他检测设备未并其他其他影响良率，从而缩短了解决影响良率或可等等等关键词。通过在eSl10有厚度加创新闻电子产品的上市时间。
成功
了解eSL10的革命性技术如何解决与先进的3D NAND、DRAM和逻辑器件制造相关的缺陷挑战。
综合检查合并
ESL10加入我们的高级和和检视系统，该系统可检测，识别，为逻辑，dram和3d Nand器材提供提供早期批发到批提供从缺陷函数。我们全面的产品综合征。全范围的缺陷发布和监控实用程序，产药的信息可镀IC制造商加产生产速度高出产量。