기업보도자료

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제품보도자료

• KLA，반도체제조의가장어려운어려운문제를해결하는두두지새로운시스템
• KLA，첨단첨단패키징을위한위한의향상된포트폴리오를를
• KLA혁신적인전자빔결함사시스템을발표
• KLA，새로운IC계측계측시스템
• KLA，신규결함결함사및및리뷰포트폴리오
• Kla-Tencor，Kronos^™1080및ICOS.^™F160검사시스템시스템
• Kla-Tencor，Voyager^™1015와冲浪士^®SP7결함결함사설비설비
• KLA-Tencor，7nm미만급IC제조용5종패턴화관리시스템도입
• KLA-Tencor，광학및euv레티클레티클블랭크사용flashscan^™제품군발표
• KLA-Tencor선도선도적첨단첨단집적회로장비기술을위한새로운측정시스템
• KLA-Tencor，레티클레티클사기술기술의새로운시스템시스템
• KLA-Tencor,선도하는IC기술들을위한포괄적인웨이퍼검사및리뷰제품군출시
• KLA-Tencor에서고급반도체패키징을위한새로운포트폴리오를도입
• KLA-Tencor，새로운새로운시스템으로5d^™패터닝제어솔루션의활용범위확대
• KLA-Tencor，5D的关键系统^™패터닝제어솔루션을지원할핵심시스템출시
• KLA-Tencor，선도선도IC기술들을위한사및리뷰제품군출시
• Kla-Tencor，새로운泰森^™SL650레티클검사시스템발표
• KLA-Tencor，불량불량사및및리뷰장비신제품신제품
• Kla-Tencor，새로운결함검출및모니터링기술발표
• Kla-Tencor，인쇄/에칭공정제어포트에에가될신제품2종발표
• KLA-Tencor, X5.2^™和特兰^™611年레티클검사시스템발표
• Kla-Tencor，새로운circl^™套房발표
• Kla-Tencor.^™,功能^™-7000年전자——빔웨이퍼결함审查시스템발표
• Kla-Tencor.^™,웨이퍼생산및IC공정모니터링을위한새로운Surfscan^®sp3결함및표면품질검수발표
• Kla-Tencor.^™와电话,AcuShape^™를탑재한새로운SpectraShape^™치수측정시스템발표차세대모델링성능
• Kla-Tencor Klarity^®LED결함분석시스템및icos^®WI-2220 LED웨이퍼검측장비로업체비용절감가능
• KLA-Tencor고휘도led제조를위해坎德拉^®8620年검사장비출시
• Kla-Tencor.^™，신제품visedge^™CV300R-EP시스템시스템
• KLA-Tencor，레티클레티클결함관리장비셋
• Kla-Tencor，Archer^™300 LCM叠加측정시스템출시
• KLA-Tencor，EUV및이중패터닝리소그래피문제의，비용효과적인조사를위한pollith^™x3.1가상리소그래피리소그래피도구
• KLA-Tencor，2830및Puma 9500시리즈，EDR-5210출시
• Kla-Tencor의28xx결함검수시스템을새로운xp업그레이드는향상향상된，생산성，수율관련결함식별제공