约翰·c·罗宾逊(John C. Robinson)是KLA工业与客户合作(ICC)小组的高级首席科学家，他被选为国际光学与光子学学会SPIE的成员。院士是在光学、光子学和成像等多学科领域做出重大科学和技术贡献的学会成员。约翰加入了一个由近1600名SPIE成员组成的精英团体，自该协会于1955年成立以来，这些成员已经成为该协会的院士。

作为一个新任命的研究员约翰因其技术成就以及对SPIE社区的服务而受到表彰。在他24年的SPIE会员生涯中，John已经是47个SPIE出版物的作者。他曾担任2年的会议联合主席和9年的计划委员会的计量，检查和过程控制的半导体制造会议的SPIE先进光刻。约翰还倡导学生参与SPIE高级光刻，包括为卡雷尔Urbánek最佳学生论文奖提供支持。

在KLA任职期间，John一直在数据分析和计量方法的发展和行业采用中扮演着不可或缺的角色。他是KLA光学临界尺寸(CD)计量的第一个应用工程师，为一个联合开发项目提供技术支持，最终促成了KLA第一篇关于光谱椭圆偏振法用于CD测量的论文．他还在Archer™AIM计量发展的早期阶段发挥了重要作用，这导致了KLA的一个第一篇论文的主题是AIM®覆盖计量标记．作为KLA数据分析产品的产品营销经理和总监，John在帮助扩展计量分析能力方面发挥了关键作用，在过去15年里，随着产品线从Archer Analyzer到K-T Analyzer®发展到现在5 d分析仪®．John最近的工作重点是开发和用例采用I-PAT(内联缺陷部件平均测试)方法这有助于汽车芯片制造商减少半导体电子元件潜在可靠性缺陷的发生率。约翰拥有60多份技术出版物和20多项专利。他拥有德克萨斯大学奥斯汀分校(The University of Texas at Austin)物理学博士和硕士学位，以及卡尔顿学院(Carleton College)物理学学士学位。

SPIE是一个非营利性教育组织，成立于1955年，旨在促进基于光的科学、工程和技术。该协会为来自184个国家的超过25.8万名会员提供会议及其出版的会议记录、继续教育、书籍、期刊和SPIE数字图书馆。

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