产品描述
Candela 7100系列先进的缺陷检测和分类系统是专门为硬盘驱动器基片和介质设计的。高功率双波长激光器针对当前感兴趣缺陷(DOI)的挑战进行了优化，多通道散射探测器提供了增强的灵敏度，用于对亚微米凹坑、凸起、粒子和全范围衬底上的埋藏缺陷进行分类。7100系列的性能和稳定性确保了一个平台可以用于多个过程控制应用点。
特征
- 用全磁盘缺陷地图检测和分类亚微米坑，凸块，粒子，埋地缺陷，玻璃，基板和介质
- 通过完整的磁盘映射提供更快的结果时间，具有分类缺陷和可操作的数据输出
- 减少对离线检测技术(AFM, SEM, TEM等)的依赖，从而降低总体拥有成本
- 可在手动(7110)或全自动(7140)配置
用例
- 缺陷检查
- 划痕和山脊检查
- 颗粒和污点检验
- 激光纹理分析
- 碳均匀性分析和碳空穴检测
- 录制层和软底层映射
- 润滑油均匀性分析
- 磁成像
选项
- 精密钻石抄写员
- 高灵敏度(HS)选择
- 磁成像
- 离线软件大形式因素软件许可证
